ElvaX Plus

ElvaX Plus spektrometresi, Na (Z=11) ile U (Z=92) arasındaki elementleri kapsayan genişletilmiş analiz aralığına sahip, masaüstü bir enerji saçılımlı X-ışını floresans (EDXRF) analiz cihazıdır.

Helyum temizleme (purge) sistemi, otomatik birincil filtre değiştirici ve geniş alanlı SDD dedektörünün birleşimi sayesinde, hafif elementlerin spektrumlarının etkin bir şekilde kaydedilmesi sağlanır.

ElvaX Plus spektrometresi; metal alaşımları, sıvılar, tozlar, gıda ve biyolojik örnekler gibi çeşitli numunelerin yanı sıra yüzeylere veya filtrelere biriktirilmiş örneklerin de nitel ve nicel element analizinde kullanılır.

Analiz cihazının tespit limiti, hafif matrislerdeki çoğu element için 1 ppm’den daha iyidir.

Avantajlar:

• Dünyanın en hızlı XRF analiz cihazı (400.000 cps’in üzerinde ölçüm hızı) – en yüksek doğruluk ve mükemmel tekrarlanabilirlik, en kısa ölçüm süresiyle birlikte
• Geniş element tespit aralığı: Na (Z=11) – U (Z=92)
• Helyum temizleme sistemi, hafif elementlerde (Na, Mg, Al, Si, P, S) hassasiyeti artırır
• Mükemmel kalibrasyon kararlılığı, ortam sıcaklığı ve basınç değişimlerinin otomatik telafisi
• Opsiyonel 16 konumlu otomatik numune değiştirici, laboratuvar verimliliğini artırır
• Opsiyonel yüksek çözünürlüklü CCD kamera, numunenin hassas konumlandırılmasını sağlar
• Düşük bakım maliyeti

ElvaX Plus, geniş bir uygulama yelpazesinde günlük analiz işlemlerini hızlı bir şekilde gerçekleştirmek için basit ama güçlü bir cihazdır.

ElvaX Plus, gelişmiş analitik yazılım araçlarını kullanıcı dostu bir arayüzle birleştirir; böylece deneyimsiz kullanıcılar bile gerekli tüm ölçümleri dakikalar içinde gerçekleştirebilir.